长川科技公布“测试板卡自检方法、系统、测试设备和电子设备”专利

天眼查APP显示，近日，杭州长川科技股份有限公司申请的“测试板卡自检方法、系统、测试设备和电子设备”专利公布。 摘要显示，本发明实施例公开了一种测试板卡自检方法、系统、测试设备和电子设备，方法包括检测目标控制器的功能，并在检测到目标控制器中存在异常功能时生成异常功能对应的异常标志，当目标控制器为第二控制器或第三控制器，目标控制器通过第一通信接口将异常标志传输到第一控制器，第一控制器将异常标志存储到异常标志对应的存储装置中，第一控制器查询各异常存储单元，并在确定至少一个异常存储单元中存储有异常标志时更新异常存储控制单元的存储状态。由此实现了在初始化阶段和测试阶段对测试板卡中各功能芯的目标功能状态检测，无需对测试板卡进行额外操作，提高了获取功能芯片状态的效率，确保了芯片测试设备测试结果的可靠性。

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