长川科技公布“测试数据的处理方法、装置、设备和存储介质”专利

天眼查APP显示，近日，杭州长川科技股份有限公司申请的“测试数据的处理方法、装置、设备和存储介质”专利公布。 摘要显示，本公开提供了一种测试数据的处理方法、装置、设备和存储介质，通过按照预设频率读取测试文件中的芯片测试数据并在数据展示界面刷新显示最新读取的部分芯片测试数据，使用户可以在芯片测试过程中实时监控测试流程，并且，提供了虚拟结批功能，在芯片测试过程中随时可以按照预设统计维度对已获取到的芯片测试数据进行统计分析并展示统计分析数据，以及基于统计分析数据生成可被测试分析工具解析的子测试文件，利用测试分析工具生成分析报告，用户无需等待芯片测试工程结束才能确定芯片测试过程中各测试项或各待测芯片的测试情况，可以及时发现异常。

【免责声明】本文仅代表作者本人观点，与和讯网无关。和讯网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。邮箱：news_center@staff.hexun.com