佰维存储公布“焊点测试方法、测试系统以及计算机程序产品”专利

天眼查APP显示，近日，深圳佰维存储科技股份有限公司申请的“焊点测试方法、测试系统以及计算机程序产品”专利公布。 摘要显示，本申请公开了一种焊点测试方法、测试系统以及计算机程序产品，涉及电子封装技术领域，该方法通过芯片单元的待测单焊点构建单焊点测试架构后，依据单焊点测试架构的散射参数矩阵确定传输参数矩阵，并结合在单焊点测试架构处于开路结构及短路结构时测量得到的基板开路传输矩阵、基板短路传输矩阵以及芯片短路传输矩阵，进行联合去嵌计算，精确剥离了测试基板与芯片单元的寄生效应及相邻结构串扰，以便直接提取出仅反映待测单焊点本征特性的传输性能参数，突破了传统多点串联测试或参数均分法存在的信号叠加干扰与近似估算局限，消除了系统性误差，实现了对待测单焊点电学特性的精准测量与故障定位，显著提升了封装体内焊点测试的准确性与可靠性。

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