德科立公布“一种VOA电压衰减曲线测试方法”专利

天眼查APP显示，近日，无锡市德科立光电子技术股份有限公司申请的“一种VOA电压衰减曲线测试方法”专利公布。 摘要显示，本申请公开了一种VOA电压衰减曲线测试方法，涉及光学技术领域，该方法在测试确定待测VOA在最小的个目标衰减值处的目标电压值和实际衰减值的对应关系后，利用小样本结果拟合电压衰减参考曲线，后续就能基于电压衰减参考曲线预测其他目标衰减值处的电压值，并通过动态校验修正，即可快速得到符合取值要求的目标电压值和实际衰减值的对应关系，由此可以在保证最终得到的电压衰减曲线的精度和可靠性的前提下，大幅缩短测试时间，提高测试效率，且该方法适用于Dark型和Bright型的VOA，适用范围较广，具备较强的工程实用性与推广价值，符合光通信器件规模化生产的效率需求。

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