广合科技等公布“PCB低阻测试方法、装置、电子设备和存储介质”专利

天眼查APP显示，近日，广州广合科技股份有限公司,东莞广合数控科技有限公司申请的“PCB低阻测试方法、装置、电子设备和存储介质”专利公布。 摘要显示，本发明公开了PCB低阻测试方法、装置、电子设备和存储介质，将待测试电路网络中各导体的制程尺寸偏差值代入电阻定律公式计算电阻偏差值作为各导体的补偿因子，采用补偿因子对低阻测试法中的各导体的理论电阻值补偿，获得待测试电路网络的标准电阻值范围，基于标准电阻值范围对待测试电路网络进行检测，无需通过学板获得待测试电路网络的标准电阻值，节省了学板获得标准电阻值的耗时，提高了PCB低阻测试的效率，且避免了学板方式引入缺陷PCB导致所得的标准电阻值不准确的问题，基于生产制程中各导体抽样检测的制程尺寸偏差值计算电阻值，能够获得PCB中待测试电路网络的准确的标准电阻值，提高了PCB低阻测试检测结果的准确性。

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