龙芯中科公布“测试方法、装置、电子设备及可读介质”专利

2025-12-24 14:35:00 和讯网 
天眼查APP显示,近日,龙芯中科技术股份有限公司申请的“测试方法、装置、电子设备及可读介质”专利公布。 摘要显示,本发明实施例提供一种测试方法、装置、电子设备及可读介质,涉及集成电路技术领域,该方法中,在当前测试流程中,基于至少两个目标测试文件各自携带的裸片标识,识别各裸片的目标测试文件。对于任一裸片,获取裸片的目标测试文件携带的关系配置信息。基于关系配置信息以及裸片标识,为裸片建立管脚映射配置。基于各裸片的管脚映射配置以及各裸片的目标测试文件中各管脚信号对应的测试向量值,对待测芯片中的裸片进行测试,得到裸片测试结果。基于裸片测试结果,为待测芯片生成芯片测试结果。这样,可以提高芯片测试效率。
(责任编辑:董萍萍 )

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